DM1750 M
12Pagine

Estratti del catalogo

Microscopio diritto per applicazioni di routine nell’analisi dei materiali Leica DM750 M Leica DM1750 M Leica DM2700 M

LEICA DM750 M / DM1750 M / DM2700 M ANALISI DEI MATERIALI DA DIVERSI ANGOLI DI OSSERVAZIONE SISTEMI APPLICATIVI SU MISURA Il nostro obiettivo primario è di mostravi, nella migliore L’uso dello stativo ergonomico in comune con Leica luce, la vostra analisi dei materiali. A tale scopo, gli DM2700 M vi mostrerà come poter combinare riprese sviluppatori Leica hanno potuto sfruttare la propria brillanti e un lavoro rilassato. Usare un microscopio non grande esperienza. Lo scopo della ricerca non è è stato infatti mai così facile. tuttavia solo quello di offrirvi sempre immagini della Grazie alla...

Aprire il catalogo a pagina 3

LEICA DM750 M La soluzione economica per i laboratori di preparazione e per la routine nell'analisi dei materiali Con il suo imbattibile rapporto prezzo/prestazioni, il Leica DM750 M rappresenta un nuovo standard nella microscopia di routine dei materiali. A seconda delle caratteristiche del campione, avrete sottocchio gli aspetti più importanti, perfino con diversi angoli di illuminazione tramite LED: vedrete semplicemente di più e otterrete risultati più significativi dalle analisi, ad esempio nei controlli qualitativi, nell'analisi dei danni o nel controllo dei materiali. La brillante...

Aprire il catalogo a pagina 4

1, 2: Alluminio-silicio, campo chiaro; Linea di deformazione rame-zinco

Aprire il catalogo a pagina 5

Ferrite C35, perlite ipoeutettoidica , N Plan 100×, campo hiaro Ferrite C35, perlite ipoeutettoidica , N Plan 100×, illuminazione obliqua

Aprire il catalogo a pagina 6

LEICA DM750 M / DM1750 M / DM2700 M ANALISI DEI MATERIALI DA DIVERSI ANGOLI DI OSSERVAZIONE 7 LEICA DM1750 M Concentrazione sui compiti del laboratorio Il nuovo microscopio Leica DM1750 M è stato sviluppato tenendo presente l'impiego di routine anche in condizioni ambientali difficili e per accogliere campioni di grandi dimensioni. Con la sua struttura robusta e solida, Leica DM1750 M dispone dell'eccellente ottica Leica Microsystems e offre molte possibilità per quanto riguarda le dimensioni dei vostri campioni. Anche qui si ha la possibilità di variare l'angolo di illuminazione dei LED...

Aprire il catalogo a pagina 7

Ferrite C60, perlite ipoeutettoidica, N Plan 50×, BF Ferrite C60, perlite ipoeutettoidica, N Plan 50×, DF Ferrite C60, perlite ipoeutettoidica, N Plan 50×, DIC

Aprire il catalogo a pagina 8

LEICA DM750 M / DM1750 M / DM2700 M ANALISI DEI MATERIALI DA DIVERSI ANGOLI DI OSSERVAZIONE 9 LEICA DM750 M / DM1750 M / DM2700 M ANALISI DEI MATERIALI DA DIVERSI ANGOLI DI OSSERVAZIONE 9 I VOSTRI PRINCIPALI VANTAGGI LEICA DM2700 M Il comfort non è un lusso Oltre ad una elevata qualità ottica, Leica DM2700 M offre soprattutto un comfort operativo unico in questa classe. Desiderate impiegare un apparecchio standard per compiti di routine, non siete però disposti a compromessi dal punto di vista delle prestazioni e della dotazione? Il microscopio è perfettamente adattabile ai diversi utenti...

Aprire il catalogo a pagina 9

I FORTI TEAMPLAYER Uno per tutti: il software per microscopio LAS con numerosi moduli LEICA APPLICATION SUITE Leica Application Suite (LAS) è una piattaforma software comune per tutti i microscopi e le fotocamere digitali Leica Microsystems. In combinazione con le fotocamere Leica DFC con porta Firewire, è possibile realizzare, secondo necessità, un sistema di analisi e d’ispezione ottimale perfettamente armonizzato, ad esempio per la determinazione della dimensione dei grani o il controllo delle fasi. In tal modo, si può esempio espandere un puro sistema di documentazione in un sistema per...

Aprire il catalogo a pagina 10

LEICA DM750 M / DM1750 M / DM2700 M ANALISI DEI MATERIALI DA DIVERSI ANGOLI DI OSSERVAZIONE 11 LEICA DM750 M / DM1750 M / DM2700 M ANALISI DEI MATERIALI DA DIVERSI ANGOLI DI OSSERVAZIONE 11 LEICA PHASE EXPERT Per i laboratori di analisi dei materiali e metallurgici, l'analisi delle fasi è un'attività frequente e al contempo esigente nella quale il tempo e l'efficienza giocano un ruolo importante. Leica Phase Expert effettua misure automatiche, obiettive e ripetibili di microstrutture a più fasi evidenziate da colori o contrasti distinti. Ciò permette di analizzare rapidamente e facilmente...

Aprire il catalogo a pagina 11

and the Leica Logo are registered trademarks ofLeica Microsystems IR GmbH. Leica Cast Iron Expert valuta le immagini di alta qualità messe a disposizione dai microscopi Leica. Il software LAS combina in forma intelligente i più moderni sviluppi della microscopia automatizzata, dell’elaborazione dei dati e dell’analisi digitale delle immagini. 13IDE45010IT Copyright © by Leica Microsystems (Schweiz) AG, CH-9435 Heerbrugg, 2015. Soggetto a modifiche. LEICA LEICA CAST IRON Microscopio invertito manuale per l’analisi dei materiali, per i controlli qualitativi industriali o per lo sviluppo di...

Aprire il catalogo a pagina 12

DM1750 M 12Pagine

Estratti del catalogo

Tutti i cataloghi e le schede tecniche Leica Microsystems

DM1750 M
12Pagine