Leica DCM8 Acquisisci la piena immagine 3D

Acquisisci la piena immagine 3D della superficie L'analisi precisa delle superfici nell'industria e nella ricerca è essenziale per assicurare prestazioni ottimali dei materiali e dei componenti. È tuttavia necessario affrontare delle sfide: le superfici possono essere costituite da strutture complesse con zone estremamente ripide che richiedono una risoluzione laterale di pochi micron, oppure valli e micropicchi critici che richiedono l'analisi verticale nella scala sub-nanometrica. Mentre il microscopio confocale offre un'alta risoluzione laterale, l'interferometro è necessario per ottenere...

LEICADCM8 ACQUISISCI LA PIENA IMMAGINE 3D DELLA SUPERFICIE 3 "Grazie al sistema Leica DCM siamo finalmente in grado di offrire servizi di misura topografica. Abbiamo così acquisito numerosi nuovi progetti e clienti." Stephan Ramseyer, IMA, Haute Ecole Arc Ingénierie, La Chaux-de-Fonds, Switzerland LEICADCM8 ACQUISISCI LA PIENA IMMAGINE 3D DELLA SUPERFICIE 3 Per saperne di più sulle applicazioni nella metrologia di superficie 3D o per condividere la vostra esperienza con la nostra community www.leica-microsystems.com/science-lab Mostrato con tavola antivibrazione opzionale

Versatile e preciso – per soddisfare le esigenze più specifiche nell'ambito della metrologia di superficie Il Leica DCM8 associa i vantaggi del microscopio confocale HD e dell'interferometria a una vasta gamma di funzioni aggiuntive che facilitano un'accurata e riproducibile caratterizzazione di superfici di molteplici materiali. Per soddisfare le esigenze di documentazione, il profilometro realizza una eccellente visualizzazione a colori reali grazie alla fotocamera CCD Megapixel integrata e a 4 sorgenti luminose LED. RISOLUZIONE LATERALE OTTIMALE CON MICROSCOPIO CONFOCALE HD Grazie alla tecnologia...

LEICA DCM8 VERSATILE E PRECISO – PER SODDISFARE LE ESIGENZE PIÙ SPECIFICHE NELL'AMBITO DELL A METROLOGIA DI SUPERFICIE RISOLUZIONE VERTICALE OTTIMALE CON INTERFEROMETRIA HD Quando è necessaria una risoluzione verticale fino a 0.1 nm, la modalità di interferometria di Leica DCM8 è la scelta perfetta. Il sistema è in grado di analizzare superfici lisce, ultra-lisce e ultra-lucide, trattando quindi una vasta gamma di applicazioni con un singolo sistema. Per soddisfare esigenze differenti, inclusa l'analisi delle superfici riflettenti, offriamo una serie completa di obiettivi esclusivi di alta qualità...

QUATTRO LED PER LA VISUALIZZAZIONE HD RGB E UN AMBITO DI APPLICAZIONE PIÙ ESTESO Il Leica DCM8 include quattro LED, Blu (460 nm), Verde (530 nm), Rosso (630 nm) e Bianco (centrato 550 nm). Aumentando il numero di colori e quindi le lunghezze d'onda disponibili, si estende il raggio d'applicazione. Per esempio, con wafer semiconduttore con vernici fotosensibili in cui il campione è sensibile alla luce blu, si può scegliere di utilizzare solamente la luce rossa per la cattura delle immagini. Immagini a colori estremamente nitide Con i LED RGB in combinazione con la fotocamera CDD HD, il Leica DCM8...

LEICA DCM8 VERSATILE E PRECISO – PER SODDISFARE LE ESIGENZE PIÙ SPECIFICHE NELL'AMBITO DELL A METROLOGIA DI SUPERFICIE Rappresentazione grafica degli elementi interni TRE METODI DI MISURAZIONE PER PELLICOLE CON SPESSORE AMPIO E SOTTILE Il Leica DCM8 offre tre tecniche alternative per le misurazioni dello spessore: modalità confocale, modalità di interferometria e modalità riflettometro spettroscopico. Le tecniche confocale e interferometrica possono essere utilizzate per misurare lo spessore di uno strato o una lamina trasparente, nonché la superficie del substrato, oppure dell'interfaccia strato-aria....

CONFIGURAZIONE E OBIETTIVO APPROPRIATI PER OGNI CAMPIONE Ottica di qualità impressionante Il Leica DCM8 utilizza i nostri obiettivi di qualità rinomata a livello mondiale, per la modalità confocale in campo chiaro e campo oscuro, da 1.25x a 150x, con un'ampia gamma di distanze di lavoro in grado di soddisfare i requisiti specifici dell'applicazione. Se si devono analizzare i campioni con la più alta risoluzione laterale, sono disponibili gli obiettivi a immersione dotati di elevate aperture numeriche. Nell'analisi di una superficie situata sotto ad uno strato trasparente, i nostri obiettivi,...

LEICA DCM8 VERSATILE E PRECISO – PER SODDISFARE LE ESIGENZE PIÙ SPECIFICHE NELL'AMBITO DELL A METROLOGIA DI SUPERFICIE Configurazione standard Portaobiettivi a revolver motorizzato Una scelta di lenti lucidate a mano che costituiscono il fulcro dei nostri obiettivi È disponibile una gamma di tavolini manuali e motorizzati adatti al campione

Veloce, semplice e durevole – minor tempo, investimento economico e impegno con i massimi risultati La necessità di una caratterizzazione della superficie affidabile e accurata è un prerequisito in ogni applicazione, tuttavia nella produzione la velocità è altrettanto fondamentale per evitare costose interruzioni dei processi di produzione. Il Leica DCM8 è facile da usare e veloce nell'acquisizione di dati e delle immagini di superficie. Il software intuitivo semplifica inoltre le successive analisi e la progettazione assicura un lungo ciclo di vita, con costi minimi di utilizzo. NON RICHIEDE...

LEICA DCM8 VELOCE, SEMPLICE E DUREVOLE - MINOR TEMPO, INVESTIMENTO ECONOMICO E IMPEGNO CON I MASSIMI RISULTATI CATTURA RAPIDA DI VASTE SUPERFICI CON AMPIO CAMPO VISIVO E STITCHING TOPOGRAFICO Grazie alla fotocamera integrata CCD ad alta risoluzione, il Leica DCM8 offre un campo visivo (FOV) molto ampio. In questo modo è possibile acquisire in una sola analisi un'area più ampia della superficie del campione, contribuendo a ottimizzare l'efficienza del flusso di lavoro. Visione completa Nel controllo di qualità dei componenti industriali è spesso richiesta la misurazione ad alta risoluzione di...